Laboratoř SPM mikroskopie

Přístrojové vybavení:

Systém Ntegra Prima (platforma SPM – mikroskopie skenující sondou) s možností měření v externím (in-plane, out-of-plane) magnetickém poli.

Měřené materiály:

Fero a ferimagnetické materiály (magnetické vrstvy, multivrstvy, amorfní a nanokrystalické pásky, objemové materiály, tenké vrstvy, samotné krystaly). Lze studovat i elektricky nevodivé materiály.

Nabízené služby - základní měřené parametry:

Mikroskop atomárních sil Ntegra Prima (NT-MDT) je modulární systém, který umožňuje využít širokou škálu technik využívající k měření skenující sondu. Kromě klasického mapování povrchů vzorků (AFM) lze využít mikroskopii magnetických sil (MFM), elektrostatických sil (EFM), laterálních sil (LFM), Kelvinovu mikroskopiii (KPM) ke studiu povrchových elektrických potenciálů a další. Lze využít i litografické techniky. Přednost daného systému rovněž dokumentuje možnost využít k měření externí magnety, a to v rovině vzorku – in plane (longitudinální měření) nebo kolmo k rovině vzorku – out of plane (transverzální měření). Podle typu pólových nástavců lze pracovat v polích o hodnotách až 0,2 T.
Vzhledem k široké adaptabilitě přístroje a jeho komponentů lze pracovat i v kapalném prostředí (speciální cela), v různých atmosférách nebo vyšším vakuu. Horizontální rozlišení je dáno vlastnostmi hrotu (rozměry a zakřivení). U vertikálního rozlišení (udávaná hodnota 0,1 nm) je možné zobrazit atomové roviny (např. grafit).
Nově je přístroj rozšířen o ohřívací stupeň pro měření vzorků až do teploty 150°C a o dvě hlavy (3 µm, 90 µm) umožňující měření vzorků s využitím skenovací tunelové mikroskopie (STM).

Parametry externích magnetů